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有許多因素會影響老化房老化測試系統的整體性能，下面是一些主要方面：
1．老化房計算機主機與測試系統之間的通信。由于功能測試程序非常長，因此測試硬件的設計應盡可能提高速度。一些系統使用較慢的串行通信，如RS-232C或者類似協議，而另一些系統則使用雙向并行總線系統，大大提高了數據流通率。
2．根據時間動態改變測試參數的能力，如電壓與頻率。如果老化測試系統能夠即時改變參數，則可以加快通常屬于產品壽命后期階段故障的出現。對于某些器件結構，直流電壓偏置及動態信號的功率變動都可加速出現晚期壽命故障。
3．系統提供參數測試的能力。如果老化測試系統能進行一些速度測試，那么還可得到其他一些相關失效數據以進行可靠性研究，這也有助于精簡老化后測試工藝。
4．對高速測試儀程序的下載及轉換能力。有些老化測試系統有自己的測試語言，對需要做100%節點切換的被測器件不用再開發程序；而有些系統能夠把高速測試儀程序直接轉換到老化應用上，可以在老化過程中進行更準確的測試。
5．計算機接口與數據采集方式。有些老化測試系統采用分區方法，一個數據采集主機控制多個老化板，另外有些系統則是單板式采集。從實際情況來看，單板式方法可以采集到更多數據，而且可能還具有更大的測試產量。
6．首先是老化房測試方法的選擇。理想的情況是器件在老化工藝上花費的時間最少，這樣可以提高總體產量。惡劣的電性能條件有助于故障加速出現，因此能快速進行反復測試的系統可減少總體老化時間。每單位時間里內部節點切換次數越多，器件受到的考驗就越大，故障也就出現得更快。
7．老化房老化板互連性、PCB設計以及偏置電路的復雜性。老化測試系統可能被有些人稱為高速測試，但是，如果機械連接或老化板本身特性會削弱信號質量，那么測試速度將會是一個問題。如像過多機電性連接會增大整個系統的總電容和電感、老化板設計不良會產生噪聲和串擾、而很差的引腳驅動器設計則會使快速信號沿所需的驅動電流大小受到限制等等，這些都僅是一部分影響速度的瓶頸，另外由于負載過大并存在阻抗、電路偏置以及保護元件值的選擇等也會使老化的性能受到影響。